Микроэлектронограммы от сплавов равного химического состава


38

Если кристаллы исследуемого объекта имеют форму тонких пластин или игл, а также закономерную ориентировку, то всегда имеется опасность искажения дифракционной картины, обусловленной геометрией кристаллов исследуемого объекта.

Для устранения этого явления обычно используют поликристаллические объекты. В наших исследованиях кристаллы сплавов имеют форму, близкую к форме шара, и дифракционная картина не искажается. Для определения параметров кристаллической решетки могут быть пригодны объекты как с упорядоченным, так и с неупорядоченным расположением кристаллов.

Практикой было показано, что дифракционная картина, полученная от осажденных на холоднокатаную медь сплавов, более удобна для определения величины параметра решетки, так как позволяет провести необходимые измерения с более высокой точностью.

Микроэлектронограммы от сплавов равного химического состава, электролитически осажденных на отожженной (о) и холоднокатаной (б) меди, на которые была напылена соль. На микроэлектронограммах поликристаллические и довольно тонкие отражения от хлористого натрия резко отличаются от несколько размытых отражений исследуемых сплавов.

Преимуществом электронограмм, содержащих отражения от объекта-эталона, является то, что они позволяют проводить необходимые измерения относительно отражений эталона и исключить возможные ошибки, которые обусловлены оптикой прибора. При измерении положения дифракционных линий на электронограмме рекомендуется пользоваться оптическими измерительными приборами (компаратором, микрофотометром, проектором), которые повышают точность проводимого измерения.

Электронномикроскопичеокое исследование структуры электролитически осажденных сплавов позволило установить, что они имеют мелкокристаллическое строение и состоят из кристаллов округлой формы, размеры которых колеблются в пределах Ю-4-10~5лш.

На электронных микрофотографиях показана структура: (а) 8% никеля. 23% хрома и 69% железа; (б) 12% никеля, 9% хрома и 69% железа, осажденных на поверхности отожженной и холоднокатаной меди. Четких границ отдельных кристаллов не удается различить даже при больших увеличениях порядка 10000-20000. Осадки с такой структурой часто характеризуются как субкристаллические или неявнокристаллические.

Результаты электронномикроскопического и электронографического исследований
Изменение содержания включений

Опубликовано: 29-07-2015 В рубрике : Без рубрики

Яндекс.Метрика